NS-Touch弯曲表面膜厚仪(手持):纳米级精度,让曲面测量更简单

何亮

  在光学镀膜、半导体制造和消费电子领域,曲面基材上的薄膜厚度控制直接影响产品性能。传统膜厚仪因探头设计局限,难以精准测量弧面镜片、车灯罩等复杂曲面。苏州悉识科技推出的NS-Touch系列手持式膜厚仪,凭借其非接触式白光干涉技术、智能算法和人体工学设计,成为曲面测量的创新解决方案。<br>  一、核心技术突破:非接触式测量,精度达纳米级<br>  NS-Touch系列采用白光干涉与光谱反射结合技术,通过分析薄膜上下表面反射光的干涉条纹,结合材料折射率数据库,实现单层/多层薄膜的厚度解析。其核心优势体现在:<br>  1、纳米级精度:标准配置下,测量精度达0.01μm(或读数的0.2%),重复性稳定性(1σ)≤0.001μm。例如,在镜片硬化膜涂层测量中,连续100次测试的厚度偏差小于1纳米。<br>  2、宽光谱覆盖:提供三种型号(NS-TouchUV、NS-Touch、NS-Touch NIR),波长范围覆盖190nm-1700nm,可适配不同材料特性。其中NS-TouchUV型号支持190nm紫外光测量,能精准捕捉疏水层等超薄膜(厚度仅百原子级)。<br>  3、多层解析能力:内置算法支持同时分析3层以上薄膜结构,例如可同步测量AR减反射膜、硬涂层和底漆层的厚度,避免多次测量误差。<br>  二、曲面测量场景:从实验室到产线的全覆盖<br>  针对曲面基材的测量痛点,NS-Touch系列通过以下设计实现高效操作:<br>  1、柔性探头设计:探头光斑直径仅100μm,可紧密贴合曲率半径≥1mm的曲面。实际测试中,用户可在3秒内完成弧面眼镜镜片上AR涂层的多点测量,数据一致性优于传统接触式探头。<br>  2、抗背反射干扰:采用偏振光路设计,有效抑制基材反射光对薄膜信号的干扰。在金属车灯罩的镀铝膜测量中,可将信号噪声比提升至传统设备的3倍以上。<br>  3、环境光适应性:内置环境光补偿模块,即使在车间照明(照度>5000lux)下,仍能保持测量稳定性。对比实验显示,其数据波动幅度比同类产品低40%。<br>  三、智能算法:让测量更“傻瓜”<br>  NS-Touch系列通过软件创新降低操作门槛:<br>  1、AutoCal自动校准:用户无需手动调节标准片,系统可在开机后30秒内完成波长校准和光强平衡。在某光学镜片厂商的产线实测中,校准时间从15分钟缩短至2分钟,日校准次数减少80%。<br>  2、自动样品识别:通过机器视觉算法,设备可自动识别镜片、车灯等典型曲面的测量区域,并提示最佳测量角度。在AR眼镜产线应用中,新手操作员的上手时间从2小时缩短至20分钟。<br>  3、实时数据反馈:配备高清触控屏,支持测量数据实时显示、历史记录追溯和SPC统计分析。用户可通过Wi-Fi将数据同步至MES系统,实现质量追溯闭环。<br>  四、典型应用案例:从实验室到量产的验证<br>  1、消费电子领域:某智能穿戴设备厂商使用NS-Touch NIR型号测量手表表镜的疏水层厚度。通过190nm紫外光测量,将疏水层厚度控制精度从±5nm提升至±1nm,使产品防水等级从IP67提升至IP68。<br>  2、汽车照明行业:某车灯供应商采用NS-Touch标准型号测量LED车灯罩的镀铝膜厚度。通过多层解析功能,同步获取镀铝层(200nm)和保护涂层(5μm)的厚度数据,将产品良率从82%提升至95%。<br>  3、半导体封装:某芯片封装企业使用NS-TouchUV型号测量晶圆级封装的钝化层厚度。在0.2mm曲率半径的晶圆边缘,设备仍能保持0.02μm的测量精度,满足先进封装工艺要求。<br>  NS-Touch系列手持式膜厚仪通过技术创新,将实验室级精度带入产线现场。其非接触式测量、智能算法和曲面适配能力,不仅解决了传统设备的痛点,更推动了光学镀膜、半导体封装等行业向更高精度、更高效率发展。对于追求品质控制的制造企业而言,NS-Touch系列无疑是曲面测量的理想选择。<div> NS-Touch弯曲表面膜厚仪厂家苏州悉识科技有限公司 官网https://www.filmetrics.com.cn/</div> 弯曲表面膜厚仪