<p class="ql-block">新设备：DAL测试仪单元 ；制造商：日本制造商</p><p class="ql-block">简介：本产品是可以驱动和测量半导体激光二极管的测试仪。可根据设备用途选择驱动器，可进行Pulse、CW等驱动和测量。通过与光学系统组合，不仅可以自动测量电特性，还可以自动测量光输出特性、FFP特性、波长特性、NFP特性等。连接的 PC 上显示测量结果和通过/失败判断。</p><p class="ql-block">目标设备和应用程序：</p><p class="ql-block">目标设备：LD Device （EEL／VCSEL）、也可提供LD Chip / LD Bar / LD CAN / COSA, CoC等特殊封装。、LED Device</p><p class="ql-block">设备使用：LiDAR用LD、通信用LD、记录再用LD、Display用LD／LED、医疗用LD/LED、传感器用LD</p><p class="ql-block">特征：可根据设备用途、特性选择最佳驱动程序、可以通过光学系统控制和测量组合进行多种测量、可根据客户要求定制测量项目、可实现高速、高精度的测量精度、使用Ethernet的通用性、光学设备Option、自定义夹具的各种特性评价。</p>